BRUKER原子力顯微鏡為何與眾不同？

　　BRUKER原子力顯微鏡系統經過專門設計，在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設備復雜性，不帶來繁瑣操作的前提下，即可實現快速掃描。使用原子力顯微鏡，可以即時快速地獲得AFM圖像，實現高性能AFM的預期高分辨率。無論您是以大于125Hz掃描樣品表面尋找查找感興趣的區域時，或是在氣相或流體中以每秒1秒的速率采集AFM圖像，都能用FastScan得到優異的高分辨圖像。
 

　　BRUKER原子力顯微鏡能在各種尺寸的樣品上實現高達每秒一幀的掃描速率，而不犧牲分辨率或任何儀器性能。結合峰值力輕敲模式，原子力顯微鏡使用線性控制回路實現了實時的力測量，從而在各種剛度的樣品表面上，無論是堅硬平滑的晶體表面還是柔軟粗糙的聚合物表面上，都能獲得高分辨的形貌及力學性能。
 

　　BRUKER原子力顯微鏡具有優秀的分辨率，與*的電子掃描計算方法相結合，可以提供給用戶顯著提升的測量速度與質量。原子力顯微鏡配置了溫度補償位置傳感器，可以展現出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。XYZ閉環掃描頭的新設計也能展現較高掃描速度，而不損壞圖像質量，實現更大的數據采集輸出量。Icon掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的精確度。這種革新與新的掃描和下針算法相結合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。