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BrukerDektakPro布魯克臺(tái)階儀DektakPro™以其多功能,使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測(cè)量方面廣受贊許。第十一代Dektak®系統(tǒng),具有4?重復(fù)性的表現(xiàn),并提供200毫米平臺(tái)選項(xiàng),在科研以及工業(yè)領(lǐng)域中可以為材料的表面形貌提供各種分析。DektakPro在表面測(cè)量方面設(shè)立了新的目標(biāo),是微電子......
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常壓等離子體具有諸多用途。但是,這些設(shè)備主要設(shè)計(jì)用于各種表面的局部預(yù)處理,如清洗和活化聚合物、金屬、陶瓷、玻璃和混合材料。不過(guò)也可以通過(guò)等離子體噴射法進(jìn)行涂覆。由于結(jié)構(gòu)類型,Dienerelectronic的常壓等離子設(shè)備適合用于機(jī)器人,并且可以集成到現(xiàn)有的自動(dòng)化生產(chǎn)線中。等離子工藝流程材料清洗等離子體技術(shù)可為所有類型......
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特點(diǎn)·高分辨定量成像性能·150Hz快速掃描助力動(dòng)態(tài)變化過(guò)程研究·與精密先進(jìn)光學(xué)顯微鏡結(jié)合·新一代基于工作流程的軟件革新·靈活易用的模塊化設(shè)計(jì)與大量模塊的拓展性分辨率、穩(wěn)定性與準(zhǔn)確度·將高分辨率、快速掃描與100μm大范圍掃描集成于一套系統(tǒng)之中。全新的Vortis™2控制器帶來(lái)了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度可以輕松進(jìn)行海量大......
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賽默飛X射線熒光光譜儀是一種分析技術(shù),通過(guò)測(cè)量樣品對(duì)X射線的吸收和發(fā)射來(lái)鑒定元素的種類和含量。這種技術(shù)在許多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用,主要包括以下幾個(gè)方面:1、環(huán)境監(jiān)測(cè):賽默飛X射線熒光光譜儀可以用于分析土壤、水、沉積物和其他環(huán)境樣品中的重金屬和其他有毒元素。這有助于評(píng)估環(huán)境污染程度,制定相應(yīng)的治理措施,保護(hù)生態(tài)環(huán)境。2、材......
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原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類的。主要有以下3種操作模式:接觸模式(contactmode),非接觸模式(non-contactmode)和敲擊模式(tappingmode)。接觸模式從概念上來(lái)理解,接觸模式是AFM最直接的成像模式。AFM在整個(gè)掃描成像過(guò)程之中,探針針尖始終與樣品表面保持......