Bruker納米壓痕儀是一種用于材料科學研究的精密儀器，主要用于測量材料的硬度、彈性模量、蠕變等力學性能。其工作原理基于納米壓痕技術，通過在樣品表面施加微小的力并測量相應的位移來獲得材料的力學性能參數。Bruker納米壓痕儀的工作原理主要包括以下幾個方面：1.加載過程：在測試過程中，儀器的壓頭以恒定的加載速率對樣品表面......

加利福尼亞州圣何塞，2024年9月10日——布魯克公司今日宣布推出DektakProTM探針式輪廓儀，Dektak®產品線中的下一代輪廓儀。新的臺式系統融合了超過55年的創新成果，為半導體應用提供了高達200毫米的全尺寸樣品測量區域，并通過改善用戶體驗和測量精度縮短了獲得結果的時間。DektakPro的進步鞏固......

賽默飛X射線熒光光譜儀是一種用于分析材料成分的儀器，其基本工作原理是利用X射線照射樣品，使樣品中的元素原子受到激發，從而產生特征X射線熒光。通過測量這些特征X射線熒光的能量和強度，可以確定樣品中元素的種類和含量。具體來說，賽默飛X射線熒光光譜儀的基本工作原理可以分為以下幾個步驟：1、產生X射線：儀器內部有一個X射線管，......

上海爾迪儀器科技有限公司邀您第25屆參加中國國際光電博覽會（CIOE2024）時間：2024年9月11-13日展位號：3A32地址：深圳國際會展中心我們期待您的到來！?中國國際光電博覽會（CIOE）?是一個具規模及影響力的光電產業綜合性展會，自1999年創辦于?深圳以來，每年9月初在深圳會展中心舉行，該博覽會涵蓋了光電......